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美国Phi Optics空间光干涉量化成像分析系统

Phi Optics SLIM技术将相衬显微技术和全息成像术整合为一体,是一款非侵入式的空间光成像技术;采用独特的四波横向剪切干涉检测专利技术,利用空间非相干光源的白光成像,参照光与照射光都通过样本,不受光源极性变化影响,保证更好的横向分辨率,无光漂白影响,无需染色,避免光毒性,直接通过将样本中的光程差并将其转化成厚度,干物质面积浓度和折射率图

公司简介

Phi Optics有限公司于2009年由光学博士和材料科学研究博士在美国成立,公司为应对市场需求致力于开发量化相差成像设备。基于其量化相差成像平台,Phi Optics公司正在开发下一代光学成像系统,Phi optics平台的目标是在多变的纵向市场与传统光学显微镜竞争,在大量专利保护证书及Phi Optics的不断开发的支持下,公司主要针对生命科学、医学诊断及纳米技术,半导体技术等开发应用。

Phi Optics技术平台采用标准工具及处理过程,综合传统可调光学显微镜的性能(例如荧光,DIC,相差等)与实时3D